企業情報

沿革

1973年昭和48年 2月 資本金3,000万円で設立
1974年昭和49年 微少流量計測制御コンピュータシステム完成納入(ホンダシビックのCVCCエンジン)
1975年昭和50年 小物電子部品特性自動選別機Ⅰ型開発(応用機として、A-QB-112 等)

1976年昭和51年 オーバルベース機Ⅰ型開発(応用機として、チップコンデンサー特性自動選別機)
1978年昭和53年 小物電子部品特性自動選別機Ⅱ型開発(応用機として、A-QB-124 等)

1979年昭和54年 オーバルベース機Ⅱ型開発(応用機として、チップコンデンサ特性自動選別機、表面弾性波素子特性自動選別機 等)

1980年昭和55年 SBC(シングルボードコンピュータ)及びプロセスI/O モジュールシリーズ開発
1981年昭和56年 7月 西八王子工場開設
11月 資本金4,500万円に増資
1983年昭和58年 OS-9/6809対応8ビットマイクロコンピュータXDS-155およびEXCシリーズ(HC5000シリーズ)開発
チップコンデンサ特性自動選別機AMC-148 開発
1984年昭和59年 資本金5,500万円に増資
小物電子部品特性自動選別機Ⅲ型開発(応用機として、AQB-24F 等)

1985年昭和60年 OS-9/68K対応16ビットマイクロコンピュータXDS-255およびVME規格準拠ボードHC6000シリーズ開発

1986年昭和61年 水晶振動子特性自動選別機A-QR-200タイプ開発
1987年昭和62年 12月 浜松工場竣工
チップコンデンサ特性自動選別機AMC-500 開発
1988年昭和63年 12月 浜松工場開設
1989年平成元年 水晶ブランク周波数自動選別機A-QB-150 開発


水晶振動子特性自動選別機A-QR-250開発
1990年平成2年 水晶フィルタ特性自動選別機A-QR-250FNK開発
セラミックフィルタ自動選別機ACF-105開発
1991年平成3年 水晶振動子特性自動選別機A-QR-300タイプ開発
1993年平成5年 SMD型水晶振動子特性自動選別機A-QC-820開発
1994年平成6年 1005用MLCC自動選別機AMC-601開発
1995年平成7年 多端子チップ部品用自動選別機AEM-520開発
水晶ブランク周波数自動選別機A-QB-120A開発
1996年平成8年 3月 浜松工場増設
耐圧計PT-530開発
1997年平成9年 コンデンサアレー・4素子対応耐圧計PT-540開発
コンデンサアレー用自動選別機ACM-525開発
1998年平成10年 0603用MLCC自動選別機ACM-630開発
コンデンサアレー・4素子対応耐圧計PT-541開発
1999年平成11年 耐圧計PT-532開発
水晶ブランク周波数自動選別機A-QB-130A開発
2000年平成12年 SAWフィルタ用自動選別機ASF-8700開発
2001年平成13年 10月 蘇州慧萌電子科技有限公司開設(蘇州HUMO)
2003年平成15年 3月 西八王子工場を浜松工場へ統合
絶縁抵抗計HIT-100開発
マニュアルテーピング装置MT-2000開発
2004年平成16年 SMD型水晶振動子半自動特性選別機A-QC-7725開発
2005年平成17年 水晶ウェハ周波数自動選別機A-QW-3000開発
2006年平成18年 Linux対応VME規格準拠32ビットCPUボードHC6003開発
4列搬送MLCC自動選別機ACM-5000開発
4素子対応耐圧計ILT-4400開発
SMD型小型用水晶振動子特性自動選別機開発A-QC-7727開発
SMD型水晶振動子特性自動選別機開発A-QC-7729開発
クリスタルアナライザ基板HC-3700開発
水晶ラッピングモニタシステムLMS開発
2007年平成19年 高耐圧自動選別機ACM-7704開発
6素子対応耐圧計ILT-6400開発
6列搬送MLCC自動選別機ACM-5500開発
2008年平成20年 水晶ブランク周波数自動選別機A-QB-250A開発
水晶ウェハ自動整列機S-QB-3010開発
2009年平成21年 クリスタルアナライザ基板HC-3701開発
6素子対応耐圧計ILT-6401開発
4素子対応耐圧計ILT-4401開発
2010年平成22年 CメータスイッチングユニットHRS-404開発
SMD型水晶振動子1対1特性選別機A-QC-7722開発
0402用MLCC自動選別機ACM-5640開発
耐圧測定用プリチャージ基板PSD-600シリーズ開発
2011年平成23年 8月 蘇州慧萌電子科技有限公司増資
SMD型水晶発振器1対1特性選別機A-QOC-7722開発
4~8素子対応耐圧測定システムVIMシリーズ開発
2012年平成24年 水晶ブランク周波数自動選別機A-QB-1300A開発
水晶フォトリソウェハ半自動測定装置M-EQM-2900開発
薄型(組込型)MLCC自動選別機ACM-5640T開発
2013年平成25年 4列搬送三端子コンデンサ自動選別機ACM-5643開発
クリスタルアナライザ基板HC-2000、モーションコントロール&DI/O基板HC-2001開発
水晶ブランクパレット挿入機A-QB-5200開発
49US用水晶振動子1対1特性選別機A-QC-7100開発
2014年平成26年 6列搬送三端子コンデンサ自動選別機ACM-3150開発
SMD型水晶振動子特性自動選別機開発A-QC-7160開発
耐圧測定用プリチャージ基板PSD-800シリーズ開発
SMD音叉型水晶振動子特性自動選別機開発A-QC-7151開発
水晶フォトリソウェハ半自動測定装置M-EQM-2910開発
CメータスイッチングユニットHRS-500開発
8列搬送MLCC自動選別機ACM-4100開発
2015年平成27年 SMD水晶デバイス用供給システム開発
コンタクトチェック基板HVCC-3000開発
0201用MLCC自動選別機ACM-5641S開発
水晶ブランク外観検査装置A-QBV-1500A開発
水晶ラッピングモニタシステムAMC-01開発
SMD音叉型水晶振動子特性自動選別機開発A-QC-7451開発
3KV対応大型MLCC用自動選別機ACM-7708開発
1KV対応大型MLCC用6列搬送自動選別機ACM-3101開発
2016年平成28年 MLCC用8列搬送自動選別機ACM-4200開発
6列搬送三端子コンデンサ自動選別機ACM-3152開発
サーミスタ付水晶振動子用検査機 AQC-7160A開発
SMD型水晶発振器DLD検査機 AQOC-7500A開発
2017年平成29年 水晶ウェハ周波数自動選別機 AQW-37xxシリーズ開発
水晶ブランク周波数自動選別機A-QB-1350A開発
水晶ウェハレーザー印字機 AQW-8720A開発
0201用MLCC自動選別機ACM-4201開発
600V対応耐圧測定システムVIM03シリーズ開発
水晶測定向けベクトル型ネットワークアナライザHXA-220A開発